X熒光光譜儀是一款可應用于多種類樣品檢測的儀器，無論對于固體、液體、粉塵、氣體等均可以進行有效分析。其進行樣品檢測的方式是怎么樣的呢？

固體樣品假如大小外形合適可以挺直分析，外形不規章可以經過容易的切割達到X熒光光譜儀的要求，只需舉行表面處理，液體樣品可以挺直分析，大氣塵埃通常收集在濾膜上挺直舉行分析，而粉末樣品的制樣辦法就比較復雜，通常需要經過壓片處理。

X熒光光譜儀的土壤檢測分析

       工作曲線的制作和校正根據儀器的操作規程開啟儀器，并預熱儀器直至儀器穩定。挑選與測試樣品基體相匹配的標準樣品，根據光譜儀的優化測量條件，用X射線熒光光譜儀測定標準樣品中待分析元素的熒光強度，按照標準祥品所給定的標準值和光譜儀所測得的強度制作工作曲線。電子電氣產品涉及的材料品種十分之多，分析元素的特征譜線常受到來自測試樣品中的基體影響、元素間譜線重疊干擾等因素影響，這些影響因素可通過工作曲線的校正，詳細可以通過背景扣除法、基本參數法、閱歷系數法等校正辦法舉行干擾校正。

       待測樣品的采譜測定將待測樣品放在樣品室內舉行測試。假如樣品是液態、粉末或顆粒，或者只是一很小的樣品，它需要在帶有不行重復用法薄膜的樣品杯里舉行測量。操作這個窗口薄膜時，當心不要接觸它的表面以免對其造成污染。全部樣品必需徹低籠罩光譜儀的測量窗口，對于輕合金起碼達到4mm厚，密度較大的合金起碼1mm厚，塊狀塑料1cm厚，粒狀塑料放樣品杯里2cm厚，液態、粉末基本上填滿樣品杯。